JEDEC規格 JESD22-A110 Revision E, 2015: Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST)

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JEDEC規格 JESD22-A110 Revision E, 2015

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Description

The Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. It employs severe conditions of temperature, humidity, and bias which accelerate the penetration of moisture through the external protective material (encapsulant or seal) or along the interface between the external protective material and the metallic conductors which pass through it. The stress usually activates the same failure mechanisms as the "85/85" Steady-State Humidity Life Test (JEDEC Standard No. 22-A101).

書名	JEDEC JESD22-A110 Revision E, 2015: Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST) JEDEC規格 JESD22-A110 Revision E, 2015: 高度加速寿命試験 (HAST)
発行元	JEDEC
発行年／月	2015年7月
装丁	ペーパー
ページ数	14 ページ
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