JEDEC規格 JESD 22-A108, Revision G, 2022: Temperature, Bias, and Operating Life

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JEDEC規格 JESD 22-A108, Revision G, 2022

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Description

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices’ operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as burn-in, may be used to screen for infant mortality-related failures. The detailed use and application of burnin is outside the scope of this document.

書名	JEDEC JESD 22-A108, Revision G, 2022: Temperature, Bias, and Operating Life JEDEC規格 JESD22-A108 Revision G, 2022年版: 温度、バイアス、および動作寿命
発行元	JEDEC
発行年／月	2022年11月
装丁	ペーパー
ページ数	14 ページ
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